水稻表型检测分析系统（JM-SDBX-A2)

技术参数：可测量水稻亩穗数、理论产量、水稻穗粒数、穗长、水稻剑叶夹角、茎粗、水稻···

根系分析系统（JM-GX-X1)

技术参数：1.配光学分辨率4800dpi×9600dpi、A4加长的双光源彩色扫描仪，扫描幅面为30···

玉米株形测定仪(JM-ZX-YM1)

技术参数：1数据展示方式：按照整体与局部分类展示，先展示整体测量的数据，包括参考种···